阻抗電解電容LCR測(cè)量?jī)x

日本NF測(cè)試儀ZM2371-ZM2372-ZM2376阻抗電解電容LCR測(cè)量?jī)x
實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確的穩(wěn)定測(cè)量
LCR測(cè)量?jī)x系列
滿足研究所需求、生產(chǎn)線需求
 
ZM2371 基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～100kHz , 測(cè)量速度 Fastest 2ms
 
ZM2372 基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～100kHz , 測(cè)量速度 Fastest 2ms，
4端子的接觸檢查功能，處理機(jī)接口
 
ZM2376 基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～5.5MHz , 測(cè)量速度 Fastest 2ms，
接觸檢查、低容量檢查
 
測(cè)量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域的NF LCR 測(cè)量?jī)xZM系列
實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測(cè)量，可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部件生產(chǎn)線等的各種用途
 
偏差小的高再現(xiàn)性
按照以下條件使用ZM2372和ZM2376，對(duì)1nF的電容反復(fù)測(cè)量200次后得到的結(jié)果。
使用ZM2376，測(cè)量的再現(xiàn)性得到了進(jìn)一步提高。
測(cè)量時(shí)間：5ms
測(cè)量頻率：100kHz
測(cè)量信號(hào)電平：1V
 
對(duì)應(yīng)快速，高精度且廣范圍的測(cè)量
寬頻測(cè)量范圍和高分辨率設(shè)定
ZM2371/ZM2372覆蓋了1mHz～100kHz、ZM2376覆蓋了1mHz～5.5MHz的頻率范圍。并可設(shè)定5位數(shù)/6位數(shù)的分辨率*，因此除了在實(shí)際使用頻率對(duì)各種部件進(jìn)行測(cè)量外，還可以對(duì)參數(shù)的頻率依賴性進(jìn)行評(píng)價(jià)。
*ZM2371/ZM2372：5位數(shù)、ZM2376：6位數(shù)
 
廣域的測(cè)量電平和ALC功能
對(duì)10mVrms～5Vrms/1μArms～200mArms的測(cè)量信號(hào)電平可進(jìn)行3位數(shù)分辨率的設(shè)置。另外，利用ALC（自動(dòng)電平控制）功能可以設(shè)置定電壓/定電流驅(qū)動(dòng)，因此可用考慮到試樣電壓/電流依賴性的穩(wěn)定驅(qū)動(dòng)信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)，可實(shí)現(xiàn)高再現(xiàn)性的測(cè)量。
 
快速測(cè)量
測(cè)量時(shí)間可以在RAP (Rapid)，F(xiàn)AST，MED (Medium)，SLOW，VSLO (Very Slow) 這5種等級(jí)切換。選擇RAP，可以實(shí)現(xiàn)2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速測(cè)量。快速、準(zhǔn)確的LCR測(cè)量?jī)x有助于提高生產(chǎn)線及自動(dòng)檢查裝置的測(cè)量效率。
 
準(zhǔn)確
實(shí)現(xiàn)了基本精度0.08%、顯示分辨率most 6位數(shù)的高精度測(cè)量。值得信賴的測(cè)量在從most先端器件的開(kāi)發(fā)到檢查線零部件分選，對(duì)提高產(chǎn)品性能和品質(zhì)*的。
 
DC偏置電壓
ZM2371/ZM2372內(nèi)置了0～＋2.5V、ZM2376內(nèi)置了0～＋5V的DC偏置用電源，可以測(cè)量電解電容等極性零部件。
ZM2376還可以快速測(cè)量鋰離子電池（單電池）等的阻抗。
 另外，如果使用選購(gòu)的DC電壓偏置適配器*，可在試樣上加載
±40V的偏置電壓，測(cè)量大容量積層陶瓷電容的電壓依賴性等。
*選購(gòu)
 直流電阻 (DCR) 測(cè)量
可測(cè)量線圈及變壓器的卷線電阻的直流電阻。可以同時(shí)在主參數(shù)中顯示電感，在副參數(shù)中顯示直流電阻的測(cè)量值。
 
面向產(chǎn)線的功能也很充實(shí)！
 
接觸檢查功能 
-- ZM2372
4端子接觸檢查
為了防止因測(cè)量先端部與零部件間接觸不良造成的誤測(cè)量或錯(cuò)誤分選，ZM2372采用4個(gè)測(cè)量端子來(lái)進(jìn)行接觸檢查判斷，由此排除不良產(chǎn)品。
 （進(jìn)行接觸檢查的額外時(shí)間 4ms)
 
步驟1：
檢查點(diǎn)線之間是否接通
（接觸檢查）
 
接觸不良時(shí)做出不良判定

步驟2：
步驟1的接觸檢查后，進(jìn)行點(diǎn)線間測(cè)量（主測(cè)量）
 
ZM2376
接觸檢查、低容量檢查
檢測(cè)異常的低容量及電壓、電流，無(wú)需額外時(shí)間就能檢測(cè)出不良接觸。
 
觸發(fā)電路同步驅(qū)動(dòng)
可以只在接觸期間驅(qū)動(dòng)試樣的功能。
可以降低在測(cè)量大容量電容時(shí)，由于安裝拆卸試樣造成的接觸損傷。在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)量履歷特性的試樣，測(cè)量值會(huì)出現(xiàn)較大的誤差。如使用觸發(fā)電路同步驅(qū)動(dòng)的話，加在各試樣上的驅(qū)動(dòng)信號(hào)和取得信號(hào)的時(shí)間以及相位關(guān)系都是固定的，可以抑制測(cè)量值的誤差，大幅縮短測(cè)量時(shí)間。
 
偏差顯示
預(yù)先設(shè)置測(cè)量部件的顯示值，可顯示與預(yù)設(shè)值的偏差、偏差%。 可應(yīng)用于零部件容許差的規(guī)格值的合格判定及溫度特性試驗(yàn)等。
 
比較器
主參數(shù)MAX大可分為14個(gè)*的BIN類別，在副參數(shù)中可以對(duì)設(shè)定好的1組上下限值的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分選。測(cè)量值可通過(guò)偏差或偏差%進(jìn)行分選，判定結(jié)果通過(guò)處理器接口*輸出。另外，根據(jù)判定結(jié)果，有時(shí)會(huì)發(fā)出嗶噗的聲音。
 在遠(yuǎn)程控制中，使用限值判定功能，也可以對(duì)主參數(shù)、副參數(shù)的上下限值（各1組）進(jìn)行判定。
*ZM2371：most多分9類，未配備處理器接口。
 
復(fù)合測(cè)量 (ZM 2376)
復(fù)合測(cè)量是指對(duì)一個(gè)試樣most多可32個(gè)步驟的測(cè)量條件測(cè)量，綜合的進(jìn)行合格判定的功能。可設(shè)定每個(gè)步驟的測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平、內(nèi)部DC偏壓、測(cè)量參數(shù)等，對(duì)主參數(shù)的上下限值1組、副參數(shù)的上下限值1組進(jìn)行測(cè)量和限值判定。
*ZM2376*的功能。
 
接口
標(biāo)配遠(yuǎn)程控制用的各種接口。無(wú)需追加選購(gòu)件就可對(duì)應(yīng)生產(chǎn)線嵌入及自動(dòng)檢查系統(tǒng)等。
 
ZM2376 后面板
 
日本NF測(cè)試儀ZM2371-ZM2372-ZM2376阻抗電解電容LCR測(cè)量?jī)x其他功能
補(bǔ)正功能（開(kāi)路補(bǔ)正，短路補(bǔ)正，負(fù)載補(bǔ)正，電纜線補(bǔ)正）
設(shè)置、補(bǔ)正值存儲(chǔ)（32組、保存在不揮發(fā)性儲(chǔ)存中、可切換）
監(jiān)視顯示（電壓、電流）
放電保護(hù)
標(biāo)配LabVIEW驅(qū)動(dòng)＜ZM2371/ZM2372＞
IVI計(jì)測(cè)器驅(qū)動(dòng)（在LabVIEW的系統(tǒng)上自動(dòng)生成LabVIEW驅(qū)動(dòng)）＜ZM2376＞
 

測(cè)試夾具、測(cè)試導(dǎo)線(單獨(dú)出售) 
 
匯集了可對(duì)應(yīng)各種應(yīng)用的測(cè)量夾具。
*測(cè)量頻率范圍是考慮了誤差因素的推薦測(cè)量范圍。
 
通用部件
可4端子測(cè)量的測(cè)試導(dǎo)線。可正確測(cè)量低抗阻。
開(kāi)爾文夾測(cè)試導(dǎo)線是用2個(gè)電氣絕緣電極相向而成的1個(gè)測(cè)量夾。
 
4端子鱷魚夾 測(cè)試導(dǎo)線 2324
測(cè)量頻率 ≤100kHz
 
2325AL（標(biāo)準(zhǔn)夾）
開(kāi)爾文夾測(cè)試導(dǎo)線 2325AL/2325AM
測(cè)量頻率 ≤100kHz
 
開(kāi)爾文測(cè)量夾 測(cè)試導(dǎo)線 ZM2392
測(cè)量頻率 ≤20kHz
 
適合高阻抗測(cè)量的遮蔽用導(dǎo)線的2端子連接的導(dǎo)線。
3端子鱷魚夾 測(cè)試導(dǎo)線 ZM2391
測(cè)量頻率 ≤20kHz
 
導(dǎo)線類部件
只需要將試樣插入導(dǎo)線中就能輕松測(cè)量的4端子法測(cè)試夾具。
可根據(jù)零部件大小來(lái)調(diào)整測(cè)量端子間隔。
 
測(cè)試夾具 ZM2363
測(cè)量頻率 ≤10MHz
 
芯片部件
通過(guò)2端子連線來(lái)測(cè)量表面著裝部件的測(cè)試夾具。沒(méi)有使用電纜，因此寄生電容及殘留阻抗小，能夠正確的進(jìn)行開(kāi)路補(bǔ)償、短路補(bǔ)償。
 
芯片測(cè)試夾具 ZM2394
測(cè)量頻率 ≤2MHz
對(duì)應(yīng)部件尺寸0603（厚度0.3mm）～14mm角
 
芯片測(cè)試夾具 ZM2394H
測(cè)量頻率 ≤30MHz
對(duì)應(yīng)部件尺寸0603（厚度0.3mm）～14mm角
 
芯片測(cè)試夾具 ZM2393
測(cè)量頻率 ≤1.2MHz
對(duì)應(yīng)部件尺寸1608～5750
 
遮蔽測(cè)量接口的3端子構(gòu)造的芯片部件用測(cè)試導(dǎo)線。寄生電容小，容易測(cè)量小容量電容。
 
芯片部件用測(cè)試導(dǎo)線 ZM2366
測(cè)量頻率 ≤10MHz

 
芯片部件用測(cè)試導(dǎo)線 2326A
測(cè)量頻率 ≤1.2MHz
 
適配器
DC電壓偏置適配器
可在試樣上加載±40V的偏置電壓的適配器。可以簡(jiǎn)單的與LCR測(cè)量?jī)x及測(cè)試夾具連接。
（4端子對(duì)構(gòu)造）
 
ZM2329（ZM2376用）
ZM2328（ZM2371/ZM2372用)